韓國、日本、義大利及台灣廠區
相繼投入自動化 IR Wafer Inspection System
Particle、Air Pocket、Stain、Bump、Through-hole、Scratch
只要是10um 以上的，都在我們眼下一一現形
全自動IR晶圓檢查設備，不管是8”或12” wafer 我們都可以對應
讓產能、判斷精準度及無塵室坪效都大大提升
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#紅外線檢測
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