熱測試設備
類別: 熱測試晶片 標準: 無 用途: 熱測試載體 技術: 鈦薄膜
熱測試產品系列提供各種現成產品和完全定制的解決方案。 從晶圓和預封裝熱測試載體(TTV)到具有定制芯片配置的一系列指定高端封裝 – 熱測試為您的需求提供了所有可能性。
Nanotest 熱測試晶圓通過薄膜技術建立了穩固性和靈活性。除了高靈敏度的溫度感測器外,這些元件還包括兩個單獨的全區加熱器和四個健康監測結構,用於觀察焊點或打線的完整性。
熱測試晶片是一個功能豐富的實驗架。尺寸、加熱和感測解析度、封裝、PCB 堆疊、蓋子、加固環 - 由您決定。
範例:
▶ 概念和可行性 ▶ 設計和構造 ▶ 基板堆疊和佈局 ▶ 組裝和封裝; ▶ 品質評估 ▶ 校準和測試 ▶ TTV 測試硬體和軟體
我們支援來自世界各地的供應商,通過提供全方位服務的一站式 TTV 解決方案,來提升其封裝的熱性能。