TIFAS IR

故障分析

TIFAS IR

红外热成像的故障分析系统

目标: 隐藏缺陷 
限制: 缺陷尺寸 > 缺陷深度

多功能故障检测

第一款全能红外线成像故障分析系统

焊锡芯片粘附层中的气孔

碳纤维增强聚合物中的气孔

烧结功率模块中的剥离现象

烧结黏附层出现大面积剥离

热线像引导方向

即插即用

实用性实践

 

▶红外图像采集▶热信号重建
▶多重算法▶自动化分析
▶同步闪光激发▶非系统专属