热测试设备
类别: 热测试芯片 标准: 无 用途: 热测试载体 技术: 钛薄膜
热测试产品系列提供各种现成产品和完全定制的解决方案。 从晶圆和预封装热测试载体(TTV)到具有定制芯片配置的一系列指定高端封装 – 热测试为您的需求提供了所有可能性。
Nanotest 热测试晶圆通过薄膜技术建立了稳固性和灵活性。除了高灵敏度的温度传感器外,这些组件还包括两个单独的全区加热器和四个健康监测结构,用于观察焊点或打线的完整性。
热测试芯片是一个功能丰富的实验架。尺寸、加热和感测分辨率、封装、PCB 堆栈、盖子、加固环 - 由您决定。
范例:
▶ 概念和可行性 ▶ 设计和构造 ▶ 基板堆栈和布局 ▶ 组装和封装; ▶ 质量评估 ▶ 校准和测试 ▶ TTV 测试硬件和软件
我们支持来自世界各地的供货商,通过提供全方位服务的一站式 TTV 解决方案,来提升其封装的热性能。