TIFAS IR

故障分析

TIFAS IR

紅外熱成像的故障分析系統

目標: 隱藏缺陷 
限制: 缺陷尺寸 > 缺陷深度

多功能故障檢測

第一款全能紅外線成像故障分析系統

焊錫芯片粘附層中的氣孔

碳纖維增強聚合物中的氣孔

燒結功率模塊中的剝離現象

燒結黏附層出現大面積剝離

熱線像引導方向

即插即用

實用性實踐

 

▶紅外圖像採集▶熱信號重建
▶多重演算法▶自動化分析
▶同步閃光激發▶非系統專屬